系統(tǒng)主要功能指標(biāo)：

• 寬光譜測量范圍：UV-VIS-NIR, 200-900nm;

• 高系統(tǒng)時(shí)間分辨率： <=5ps

• 壽命衰減測量時(shí)間范圍：<=50ps—100us 

• 高系統(tǒng)光譜分辨率： <0.1nm

• 寬單次成譜范圍：  >=200nm

• 靜態(tài)（穩(wěn)態(tài)）光譜采集，

• 瞬態(tài)時(shí)間分辨光譜圖像及熒光壽命曲線

• 系統(tǒng)集成整體控制及數(shù)據(jù)處理軟件

超快時(shí)間分辨光譜系統(tǒng) 是由光譜儀、超快探測器、耦合光路、系統(tǒng)控制及數(shù)據(jù)處理軟件組成。光譜儀對入射光信號進(jìn)行分光，分光光譜耦合到超快探測器,入射光由透鏡聚焦在陰極上，激發(fā)出的光電子通過陽極加速，入射到偏轉(zhuǎn)場中的電極間，此時(shí)電壓加在偏轉(zhuǎn)電極上，光電子被電場偏轉(zhuǎn)，激射熒光屏，以光信號的形式成像在熒光屏上。轉(zhuǎn)換后的光信號還可以再通過圖像增強(qiáng)器進(jìn)行能量放大，并在圖像增強(qiáng)器的熒光屏上成像。最后通過制冷相機(jī)采集熒光屏上信號。因?yàn)殡娮拥钠D(zhuǎn)與其承受的偏轉(zhuǎn)電場成正比，因此，通過電極的時(shí)間差就可以作為熒光屏上條紋成像的位置差被記錄下來，也就是將入射光的時(shí)間軸轉(zhuǎn)換成了熒光屏空間軸。系統(tǒng)控制軟件用于整個系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置、功能切換、數(shù)據(jù)采集等，圖像工作站用于采集數(shù)據(jù)處理分析

主要應(yīng)用方向

光譜儀建議選型參數(shù)列表

超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)既可以與飛秒超快光源配合完成獨(dú)立的光譜測試，也可以與卓立漢光的其他系統(tǒng)比如 TCSPC, RTS&FLIM顯微熒光壽命成像系統(tǒng),TAM900寬場瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)，以及低溫制冷室，飛秒&皮秒激光器等配合完成更為復(fù)雜全面的超快測試。

Zolix其他可配合超快測量系統(tǒng)

lRTS2& FLIM 顯微熒光壽命成像系統(tǒng)

• 光譜掃描范圍：200-900nm(可拓展)

• 最小時(shí)間分辨率：16ps

• 熒光壽命測量范圍：500ps-1μs@ 皮秒脈沖激光器

• 激發(fā)源： 375nm- 670nm 皮秒脈沖激光器可選，或使用飛秒光源

• 科研級正置顯微鏡及電動位移臺

• 空間分辨率：≤1μm@100X 物鏡@405nm 皮秒脈沖激光器

• OmniFluo-FM 熒光壽命成像專用軟件

Omni-TAM900 寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)

• 測量模式：

• 1：點(diǎn)泵浦-寬場探測：測量載流子遷移和熱導(dǎo)率等；

• 2：寬場泵浦-寬場探測：測量載流子分布和物理態(tài)的空間異質(zhì)性等。

• 探測器：sCMOS相機(jī)

• 成像空間分辨率：優(yōu)于500nm

• 載流子遷移定位精度 優(yōu)于30nm

• 時(shí)間延時(shí)范圍：0-4ns或0-8ns可選

• 搭配倒置顯微鏡，可兼容低溫，探針臺，電學(xué)調(diào)控等模塊

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